发明专利 基于微细孔通道环境分析的缺陷检测方法涉及方法及系统 专利号：202411164354X 专利类型 发明专利 申请号 202411164354X 申请年份 2024 专利状态 已下证可转让 领域：（航空航天、火箭制造，半导体、电子、精密器械、内窥镜+AI体检、工业、产品检测、计算机断层扫描模型、三维构建、多空验光机）
